偏光應(yīng)力儀解決方案

  玻璃制品偏光應(yīng)力儀是應(yīng)用偏振光干涉原理檢查玻璃內(nèi)應(yīng)力或晶體雙折射效應(yīng)的儀器。由于儀器備有靈敏色片，并應(yīng)用1/4波片補償方法，因此本儀器不僅可以根據(jù)偏振場中的干涉色序定性或半定量的測量玻璃的內(nèi)應(yīng)力，還可以準確的測量出玻璃的內(nèi)應(yīng)力數(shù)值。

測試方法：

 
（1）無色供試品的檢驗
1.無色供試品底部的檢驗：將四分之一波片置入視場，調(diào)整偏光應(yīng)力儀零點，使之呈暗視場。
2.把供試品放入視場，從口部觀察底部，這時視場中會出現(xiàn)暗十字，如果供試品應(yīng)力小，則這個暗十字便會模糊不清。旋轉(zhuǎn)檢偏鏡，使暗十字分離成兩個沿相反方 向移動的圓弧，隨著暗區(qū)的外移，在圓弧的凹側(cè)便出現(xiàn)藍灰色，凸側(cè)便出現(xiàn)褐色。如測定某選定點的應(yīng)力值，則旋轉(zhuǎn)檢偏鏡直至該點藍灰色剛好被褐色取代為止。繞 軸線旋轉(zhuǎn)供試品，找出zui大應(yīng)力點，旋轉(zhuǎn)檢偏鏡，直至藍灰色被褐色取代，記錄此時的檢偏鏡旋轉(zhuǎn)角度，并測量該點的厚度。
無色供試品側(cè)壁的檢驗：將四分之一波片置入視場，調(diào)整偏光應(yīng)力儀零點，使之呈暗視場。把供試品放入視場中，使供試品的軸線與偏振平面成45º，這時側(cè)壁上 出現(xiàn)亮暗不同的區(qū)域。旋轉(zhuǎn)檢偏鏡直至側(cè)壁上暗區(qū)聚會，剛好*取代亮區(qū)為止。繞軸線旋轉(zhuǎn)供試品，借以確定zui大應(yīng)力區(qū)。記錄測得zui大應(yīng)力區(qū)的檢偏鏡放置角 度，并用普創(chuàng)玻璃瓶壁厚測厚儀分別測量兩側(cè)壁原的厚度（記錄兩側(cè)壁壁厚之和）。
（2）有色供試品的檢驗
檢驗步驟與（1）相同。當沒有明顯的藍色和褐色以及玻璃透過率較低時，較難確定檢偏鏡的旋轉(zhuǎn)終點，深色供試品尤為嚴重，這時可以采用平均的方法來確定準確的終點。即以暗區(qū)取代亮區(qū)的旋轉(zhuǎn)角度與再使亮區(qū)剛好重新出現(xiàn)的總旋轉(zhuǎn)角度之和的平均值表示之。
結(jié)果計算
δ= T / t =θ×3.14 / t 
式中：δ ——供試品的應(yīng)力，nm/mm；
T ——供試品被測部位的光程差，nm；
t ——供試品被測部位通光處的總厚度，mm；
θ ——檢偏鏡旋轉(zhuǎn)角度（在測得zui大應(yīng)力時）；
3.14 —— 采用白光光源（有效波長約為565nm）時的常數(shù)，檢偏鏡每旋轉(zhuǎn)1º 約相當于光程差3.14nm（T=θ×3.14）。

總結(jié)：濟南普創(chuàng)偏光應(yīng)力儀可對透明及弱色材料的雙折射率進行檢測，并通過Senarmont補償法計算出光程誤差不超過10nm的雙折射率的值。并通過偏振光對雙折射率的分布進行檢測分析。折射率的分布和大小直接反應(yīng)出材料應(yīng)力的分布與大小。各位廠家可以根據(jù)濟南普創(chuàng)小編給出的解決方案檢驗儀器是否符合標準。